高分辨率2D和3D表面轮廓
探索小至1.1μm的表面细节。
- Sumix MAX-QS+
单光纤白光&相移干涉仪
MAX-QS+是一款白光和相移干涉仪，可用于检查单光纤ST、FC、SC、LC、MU、E2000™ （PC和APC）、小型多光纤MT-RJ（PC和PC）、SMA和专用连接器。MAX-QS具有便携式设计、自动对焦和1.1微米分辨率。
该设备通过USB 3.0电缆和12V直流电源适配器连接到笔记本电脑或台式电脑。
MAX-QS+与业界领先的MaxInspect一起提供™ 光纤连接器干涉检测软件。
自动对焦
用户只需点击鼠标一次。
组合异常检测和几何测试
加快检查速度，提高工作效率。
快速测量
在2秒内或更短时间内测量单个光纤连接器。
显微镜模式
测量前目视检查连接器端面。
行业领先的MaxInspect™ 自动检测软件
光纤高度扫描范围超过1000微米
Accurately inspect ferrule surfaces with large discontinuities and special connectors
数据库连接
将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并将Sumix设备轻松集成到用户的制造系统中。
符合行业标准
根据IEC、Telcordia或者用户标准进行通过/失败测试。
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