近场测量
使用LCM-100极性近场测量，可以分析各种发射条件要求的光纤损耗源，例如:环形通量，70/70和AS100。近场测量还可以用于分析多模光纤的纤芯尺寸以及折射率分布。
文档
LCM发射光源发射条件是一款方便的台式仪器，用于分析光纤的特性和几何形状。使用Santec的软件扫描可以轻松绘制近场和远场模式。与IEC 61280-4-1环绕通量标准等标准启动模板进行比较。LCM内部可以安装两个波长分别为850 nm和1300 nm。内部105/125µm, 0.22NA光纤允许在大多数应用中进行过填充测试。仪器的光学接口可接受所有标准的2.5mm插口。其他连接器尺寸可根据要求提供。
应用
•光纤分析
•插入损耗源符合性测试
•研发
标准
•符合MFD的IEC 60793-1-45
远场测量
LCM-100可以对光纤的光分布进行远场测量。这种分析可以得出光纤的数值孔径。远场测量也可用于ARP5061中规定的AS100或AS62。 |
Auto-alignment and Focusing
使用LCM-100的自动对准和聚焦功能，技术人员可以轻松验证系统是否正确聚焦和对准，以产生准确和可重复的近场测量。
Mode Field Diameter Measurements
使用LCM-100的远场扫描设备，可以根据IEC 60793-1-45中定义的参考方法测量单模光纤的模场直径。
