高分辨率2D和3D表面轮廓
探测小至2.2 μm的表面细节。
MAX-QM+是一款白光和移相干涉仪,可检查在单次扫描中,MT, MT- RJ, MTP®/MPO (PC和APC), SMA连接器/卡套。该干涉仪具有测试速度快、便携设计、自动对焦和大视场的特点,每排可以测试16根光纤,每次扫描可测试120根光纤。
该设备通过USB 3.0线缆和12V DC电源适配器连接到笔记本电脑或台式电脑。
MAX-QM+提供了业界领先的MaxInspect™软件,用于光纤连接器的干涉检测。
探测小至2.2 μm的表面细节。
用户只需点击鼠标一次。
从导孔到导孔连接器测量
测量多光纤连接器,最快可达3秒。
克服MTP®/MPO测量和控制附加参数(导向孔平行度和角度)中的拉索张力和卡箍定位不确定性。
掌握最新的市场技术。
易于插套/连接器和夹具处理,节省时间。
将所有本地站点的测量数据存储在一个地方,轻松地将Sumix设备集成到用户的制造系统中。
根据IEC、Telcordia或者用户标准进行通过/失败测试。