研究人员使用 Santec SPA-100 组件分析仪进行复杂的 SiPh 波导分析

研究人员使用 Santec SPA-100 组件分析仪进行复杂的 SiPh 波导分析。

横滨国立大学的研究人员最近发表了一篇论文，详细介绍了他们对他们正在积极开发的FMCW LiDAR设备的细致故障排除和分析。 这种创新器件采用硅光子波导制造，其紧凑的设计使诊断故障变得具有挑战性。

为了解决这种复杂性并精确识别设备中的潜在问题，研究团队选择采用基于光频域反射计（OFDR）技术的高分辨率反射仪，即SPA-100扫频光子学分析仪。其卓越的精度, 硅分辨率小于 4 微米, 在分析器件结构和精确定位表现出多余的反射或高插入损耗的区域方面被证明是无价的。

详细了解这些研究人员如何使用这种先进的仪器对设备中的多余的噪声进行故障排除，并确保对关键设计特性进行验证，从而为优化这项尖端技术提供有价值的见解。

在此处下载论文： OFDR analysis of Si photonics FMCW LiDAR chip