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光学特性検査システム

当社製品を組合わせて光学特性を測定するコンプリートシステムの提供も行っております。
昨今、測定の高速化や高精度化が求められていますが、お客様のご要望に合わせシステム化を行いますのでお気軽にご相談ください。

  • SPA 100 Swept Photonics Analyzer
    • 光学特性検査システム
    • SPA-100

    波長掃引型フォトニクスアナライザ

    波長可変レーザー (TSLシリーズ) のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能 (反射点計測、波長依存損失計測、近接センシング) を提供する分析装置です。

  • Edmsts
    • 光学特性検査システム
    • STS

    光学特性検査システム

    波長可変レーザー(TSLシリーズ)、パワーメータ(MPMシリーズ)、偏波コントロールユニット(PCU-110)、および、カスタムソフトを組み合わせることで、IL/WDL/PDLをR&Dや生産ラインで効率的に測定、評価いただけるシステムです。

  • PLM Front 90 0 0 FOV 70 384x237
    • 光学特性検査システム
    • PLM-100

    偏波依存損失測定器

    • Mueller Matrix
    • OCWR
    • PDL, BR & IL
  • PEM 340
    • 光学特性検査システム
    • PEM-340

    偏光消光比モニター

    Characterize PM fiber and components

    • Polarization Maintaining Fiber measurements
    • Real-time Data
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