高精度なIL/WDL/PDL特性測定
IL再現性：<± 0.02 dB
PDL再現性：± 0.01 dB
- STS
光学特性検査システム
- リアルタイムパワーリファレンス
- 高精度にIL / WDL / PDL特性測定可能
IL再現性：<± 0.02 dB
PDL再現性：± 0.03 dB - 高い波長分解能と波長精度
- マルチチャンネル測定が可能
- グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート (Visual Studio)
早い測定時間
リスケーリングアルゴリズムにより、高い波長精度を維持したまま測定時間の短縮を実現しております。
マルチチャンネル測定
マルチポートパワーメータ1台あたり最大20チャンネルの測定が可能です。
専用ソフトウェアとDLL
測定パラメーターを簡単に設定可能で様々なデータ分析が容易に行えます。
カスタム対応
Multi Branch Unitを組み合わせることによって検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。
01/01
アプリケーション
- 光部品、モジュール評価
- 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー
- 波長可変フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ
- DWDM 部品 - フォトニックデバイス/マイクロキャビティ共振器評価
- 分光計測
WDL (波長依存損失) 測定
80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定
当社の波長可変レーザーTSLシリーズは、光ASEノイズを低減する革新的な設計による共振器が搭載されており、非常に高い信号対雑音比と高い光出力パワーの実現を両立しています。そのため本システムは、高ダイナミックレンジ特性を有する光部品を複数ポート同時に特性評価が可能です。
次の図は、それぞれCWDMフィルターとノッチフィルター（FBGなど）の測定データを示しています。
高波長精度+/- 3 pm
TSLシリーズには、標準で波長モニターが装備されているため、光部品を高精度に測定することが可能です。
次の図は、アセチレン（12C2H2）ガスの吸収線を測定波長したもので、非常に高い測定精度で測定できていることがわかります。
0.1 pm未満の高波長分解能
本システムは、WDM用光部品だけでなく狭線幅フィルターも高い波長分解能でWDL及びPDL測定が可能です。
図は、Ultra-high Q キャピティデバイスを測定したもので、0.1 pm以下の分解能で測定できていることがわかります。
構成例
1. PDL(Polarization Dependent Loss)測定
- Tunable Laser TSL-770 / TSL-570
- Polarization Controller PCU-110
- Optical Power Meter MPM-210H
2. WDL(Wavelength Dependent Loss)測定
- Tunable Laser TSL-770 / TSL-570
- Optical Power Meter MPM-210H
マルチステーション
マルチステーション測定システムでは、波長可変レーザー、偏波コントローラー、マルチブランチユニットをサーバーとして機能させ、これらから光とトリガー信号を分岐して各ステーションに送ります。 そして、各ステーションはパワーメーターとPCだけで構成されます。
測定中はサーバーの波長可変レーザーは所定の範囲を連続的に掃引し続けます。 したがって、各ステーションでは他のステーションから独立して自由なタイミングで測定することが可能です。
このように、本システムは高精度な特性を維持しながら検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。
- Tunable Laser TSL-570
- Polarization Controller PCU-110
- Multi-Branch Unit MBU-100
- Optical Power Meter MPM-210H
