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  • STS

光学特性検査システム

  • リアルタイムパワーリファレンス
  • 高精度にIL / WDL / PDL特性測定可能
       IL再現性:<± 0.02 dB
       PDL再現性:± 0.03 dB
  • 高い波長分解能と波長精度 
  • マルチチャンネル測定が可能
  • グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート (Visual Studio)
Edmsts

概要

波長可変レーザー (TSLシリーズ) と マルチポートパワーメータ (MPMシリーズ)、偏光制御ユニット (PCU-110) および専用ソフトウェアを組み合わせた光学特性検査システム「Swept Test System」は、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。波長可変レーザーからの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。

高精度なIL/WDL/PDL特性測定

IL再現性:<± 0.02 dB
PDL再現性:± 0.01 dB

早い測定時間

リスケーリングアルゴリズムにより、高い波長精度を維持したまま測定時間の短縮を実現しております。

マルチチャンネル測定

マルチポートパワーメータ1台あたり最大20チャンネルの測定が可能です。

専用ソフトウェアとDLL

測定パラメーターを簡単に設定可能で様々なデータ分析が容易に行えます。

カスタム対応

Multi Branch Unitを組み合わせることによって検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。

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動画

Swept Test System Introduction Video

2 min watch
動画

Swept Test System Connect Tutorial [PDL]

3 minute watch
動画

Swept Test System Connect tutorial [WDL]

3 minute watch

アプリケーション

  • 光部品、モジュール評価
    - 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー
    - 波長可変フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ
    - DWDM 部品
  • フォトニックデバイス/マイクロキャビティ共振器評価
  • 分光計測

WDL (波長依存損失) 測定

80 dB以上の高ダイナミックレンジ測定

当社の波長可変レーザーTSLシリーズは、光ASEノイズを低減する革新的な設計による共振器が搭載されており、非常に高い信号対雑音比と高い光出力パワーの実現を両立しています。そのため本システムは、高ダイナミックレンジ特性を有する光部品を複数ポート同時に特性評価が可能です。
次の図は、それぞれCWDMフィルターとノッチフィルター(FBGなど)の測定データを示しています。

高波長精度+/- 3 pm

TSLシリーズには、標準で波長モニターが装備されているため、光部品を高精度に測定することが可能です。
次の図は、アセチレン(12C2H2)ガスの吸収線を測定波長したもので、非常に高い測定精度で測定できていることがわかります。

0.1 pm未満の高波長分解能

本システムは、WDM用光部品だけでなく狭線幅フィルターも高い波長分解能でWDL及びPDL測定が可能です。
図は、Ultra-high Q キャピティデバイスを測定したもので、0.1 pm以下の分解能で測定できていることがわかります。

構成例

1. PDL(Polarization Dependent Loss)測定

  • Tunable Laser TSL-770 / TSL-570
  • Polarization Controller PCU-110
  • Optical Power Meter MPM-210H
2. WDL(Wavelength Dependent Loss)測定

  • Tunable Laser TSL-770 / TSL-570
  • Optical Power Meter MPM-210H

マルチステーション

マルチステーション測定システムでは、波長可変レーザー、偏波コントローラー、マルチブランチユニットをサーバーとして機能させ、これらから光とトリガー信号を分岐して各ステーションに送ります。 そして、各ステーションはパワーメーターとPCだけで構成されます。
測定中はサーバーの波長可変レーザーは所定の範囲を連続的に掃引し続けます。 したがって、各ステーションでは他のステーションから独立して自由なタイミングで測定することが可能です。
このように、本システムは高精度な特性を維持しながら検査、評価の効率化をさらに図ることが可能です。

  • Tunable Laser TSL-570
  • Polarization Controller PCU-110
  • Multi-Branch Unit MBU-100
  • Optical Power Meter MPM-210H

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